MINITEST 700優點一覽: -SIDSP使測量不受干擾,測值更加精確 -可更換探頭使用更加靈活(MINITEST 740探頭可由內置換為外置) -FN探頭自動識別基體,使測量更迅速,避免操作錯誤 -溫度補償功能避免溫度變化引起的錯誤 -生產過程中50點校準使儀器獲得高精確度的特征曲線 -大存儲量,能存儲10或100組多達100,000個讀數 -讀數和統計值能單獨調出 -超大,背光顯示屏,顯示內容可180度旋轉 -菜單指引操作,25種語言可選 -帶IrDA接口,紅外線傳輸數據到打印機和PC -可下載更新軟件 主機 型號 特性 | MINITEST 720 | MINITEST 730 | MINITEST 740 | 探頭類型 | 內置 | 外置 | 內置外置可換 | 數據記憶組數 | 10 | 10 | 100 | 存儲數據量 | 多10,000個 | 多10,000個 | 多100,000個 | 統計值 | 讀值個數,小值,大值,平均值,標準方差,變異系數,組統計值(標準設置/自由配置) | 校準程序符合國際標準和規范 | ISO,SSPC,瑞典標準,澳大利亞標準 | 校準模式 | 出廠設置校準,零點校準,2點校準,3點校準,使用者可調節補償值 | 極限值監控 | 聲、光報警提示超過極限 | 測量單位 | um,mm,cm;mils,inch,thou | 操作溫度 | -10℃-60℃ | 存放溫度 | -20℃-70℃ | 數據接口 | IrDA 1.0(紅外接口) | 電源 | 2節AA電池 | 標準 | DIN EN ISO 1461,2064,2178,2360,2808,3882,19840 ASTM B244,B499,D7091,E376 AS 3894.3,SS 1841 60,SSPC-PA 2 | 體積 | 157mm x 75.5mm x 49mm | 重量 | 約175g | 約210g | 約175g(內置)/230g(外置) |
SIDSP探頭 探頭 特性
| F1.5,N0.7,FN1.5 | F2 | F5,N2.5,FN5 | F15 | F | N | F | F | N | F | 測量范圍 | 0-1.5mm | 0-0.7mm | 0-2mm | 0-5mm | 0-2.5mm | 0-15mm | 使用范圍 | 小工件,薄涂層,跟測量支架一起使用 | 粗糙表面 | 標準探頭,使用廣泛 | 厚涂層 | 測量原理 | 磁感應 | 電渦流 | 磁感應 | 磁感應 | 電渦流 | 磁感應 | 信號處理 | 探頭內部32位信號處理(SIDSP) | 精確度 | ±(1μm+0.75%讀值) | ±(1.5μm+0.75%讀值) | ±(5μm+0.75%讀值) | 重復性 | ±(0.5μm+0.5%讀值) | ±(0.8μm+0.5%讀值) | ±(2.5μm+0.5%讀值) | 低端分辨率 | 0.05μm | 0.1μm | 1μm | 小曲率半徑(凸) | 1.0mm | 1.5mm | 5mm | 小曲率半徑(凹,外置探頭) | 7.5mm | 10mm | 25mm | 小曲率半徑(凹,內置探頭) | 30mm | 30mm | 30mm | 小測量面積 | Φ5mm | Φ10mm | Φ25mm | 小基體厚度 | 0.3mm | 40μm | 0.5mm | 0.5mm | 40μm | 1mm | 連續模式下測量速度 | 每秒20個讀數 | 單值模式下大測量速度 | 每分鐘70個讀數 |
標準配置: 推薦配件: 帶塑料手提箱,內含: -F1.5/N0.7/FN1.5探頭用測量支架 -MINITEST 720(內置探頭) --或MINITEST 730(外置探頭) --或
相關產品
MiniTest740F1.5涂層測厚儀 MINITEST730系列涂層測厚儀 MiniTest730N07涂層測厚儀 MiniTest730FN1.5涂層測厚儀 MiniTest730F5涂層測厚儀 MiniTest730F2涂層測厚儀 MiniTest730F15涂層測厚儀 MiniTest730F1.5涂層測厚儀 MINITEST720系列涂層測厚儀 MiniTest720N07涂層測厚儀
聯系我們
電話:021-63515605 63504668 63510721 63515606 63515607 63510720
手機:18916150267 微信同號 13818327383 13601759153
傳真:021-63515022
郵編:201803
地址:上海市嘉定區江橋張掖路355號6號樓8層www.shanghaiybw.com www.shuangxudianzi.com www.yqybjyw.com fnwcdj.cn www.shanghaiyiqi.com
|
|