上海棱光應(yīng)力雙折射儀WYL-4 查看大圖 生產(chǎn)廠家：L|上海棱光 參考價(jià)格：8000 詢(xún)價(jià)：加入詢(xún)價(jià)車(chē)
WYL-4應(yīng)力雙折射儀
STRESS DOUBLE-REFRACTOMETER
用途
透明物體由于不均勻冷卻或其他如受機(jī)械作用等原因，其內(nèi)部會(huì)產(chǎn)生內(nèi)應(yīng)力，引起雙折射。晶體物質(zhì)本身具有雙折射的光學(xué)特征。WYL-4應(yīng)力雙折射儀采用偏振光電矢量合成及光學(xué)補(bǔ)償原理，通過(guò)對(duì)樣品的光程差的定量測(cè)定,確定樣品應(yīng)力雙折射的大小。本儀器能精確測(cè)定光學(xué)波片的光程差、確定光學(xué)玻璃的應(yīng)力級(jí)別,是光學(xué)儀器制造業(yè)不可缺少的儀器。也是研究晶體礦物質(zhì)的重要工具。它不僅在工業(yè)生產(chǎn)中得到廣泛應(yīng)用，而且在國(guó)防、建材、地質(zhì)礦產(chǎn)、材料科學(xué)方面也占有重要地位。同時(shí),本儀器也是各大專(zhuān)院校特別理想的教學(xué)實(shí)驗(yàn)設(shè)備。
特點(diǎn)
★ 直讀納米級(jí)光程差，無(wú)須計(jì)算
★ 雙分視場(chǎng)零位檢測(cè)，靈敏度高
★ 樣品工作臺(tái)45度自動(dòng)定位
★ 體積小巧,結(jié)構(gòu)緊揍
★ 操作方便,可靠實(shí)用 度盤(pán)格值： 5nm
小讀數(shù)(1/5估讀): 1nm
儀器零位誤差 ±2nm
技術(shù)規(guī)格
單色光波長(zhǎng): λ=589.44nm
光程差測(cè)定范圍 ： ± 590 nm
波片讀數(shù)重復(fù)性 1nm
被檢樣品大尺寸： 寬度440mm；長(zhǎng)度440mm；高度240 mm
光源： 220V 20W低壓鈉燈
儀器外形尺寸： 長(zhǎng)413mm 寬250mm 高400mm 折射儀 |
